Monday, 16 September 2019

Workshops WS.II

WS.II
Workshop sulla Microscopia AFM, Microanalisi e Micro-XRF
Sep 21 - 22
09:00 - 13:00
14:15 - 16:30

Co-organized and Sponsored by: BRUKER

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Presentare lo stato dell’arte e la roadmap di sviluppo delle soluzioni Bruker per la caratterizzazione delle superfici su scala micro e nanometrica.
Durante la giornata saranno introdotte le differenti applicazioni di Microscopia a Forza Atomica, Microanalisi e Microfluorescenza a Raggi-X, che spazieranno dagli ambiti delle leghe metalliche, dei polimeri e della microelettronica, ai coating, sino all’ambito biologico, mineralogico e forense.
Le sessioni pratiche di analisi dei campioni saranno condotte su:
AFM Multimode 8HR: ultima generazione del Microscopio a Forza Atomica più utilizzato al mondo, con PeakForce QNM (Misura proprietà nanomeccaniche) e High Range (AFM ad alta velocità)
Micro-XRF M4 Tornado: per analisi elementale non distruttiva su campioni tal quale di diversa natura, solidi, liquidi e polveri, anche di forma irregolare e di grandi dimensioni.

 

 

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